扫描电子显微镜和 X 射线微区分析：给生物学家、材料科学家和地质学家的教科书 Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists

关于本书

在过去十年中，自第一版扫描电子显微镜和 X 射线微量分析出版以来，基本 SEM 和 EPMA 的功能得到了极大的扩展。高分辨率成像是在广泛的场发射枪 （FEG） 显微镜的帮助下开发的。这些仪器的放大倍率范围现在与透射电子显微镜的放大倍率范围重叠。使用 FEG 的低压显微镜现在可以观察未涂层的样品。此外，X 射线波长和能量色散光谱仪的发展进展允许测量低能 X 射线，特别是来自轻元素（B、C、N、0）的 X 射线。在 X 射线微量分析领域，已经取得了巨大进步，特别是用于固体样品的“phi rho z” [Ij）（pz）] 技术，以及用于薄膜、颗粒、粗糙表面和轻元素的其他定量方法。此外，X 射线成像已经从传统的“点映射”技术发展到定量成分成像的方法。除此之外，新软件还允许为成像和定量分析结果开发更有意义的显示，并能够整合数据以获取特定信息，例如沉淀物大小、指定区域或沿特定方向的化学分析以及局部化学不均匀性。

基本信息

书名：Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
编辑：Joseph Goldstein (Author)
出版社：Springer; 2nd Edition (1992年 1月 1日)
语言：英语
精装：840页
国际标准书号-10：0306441756
国际标准书号-13：978-0306441752

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