用于纳米技术的扫描显微镜：技术和应用 Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications
Weilie Zhou (Editor), Zhong Lin Wang (Editor)
2024年11月
概述
编辑：
- 介绍 SEM 基础知识和纳米技术的应用
- 包括使用 SEM 的集成制造技术，例如电子束和 FIB
- 涵盖材料的原位纳米操作
- 由专门从事纳米材料表征的顶级纳米研究小组的国际专家撰写
- 包括补充材料：sn.pub/extras
关于本书
扫描电子显微镜 （SEM） 不仅可以用于纳米材料表征，还可以与原位纳米材料工程和操作的新技术相结合。纳米技术的扫描显微镜在技术和应用章节中都由领先的从业者介绍了这些纳米技术技术的快速发展。该书涵盖的主题包括纳米材料成像、X 射线微量分析、高分辨率 SEM、低 kV SEM、冷冻 SEM，以及电子背散射衍射 （EBSD） 和扫描透射电子显微镜 （STEM） 等新技术。与 SEM 集成的制造技术，例如电子束纳米光刻、纳米操纵和聚焦离子束纳米制造，是 SEM 应用的主要新维度。应用领域包括纳米粒子、纳米线和纳米管、三维纳米结构、量子点、磁性纳米材料、光子结构和仿生纳米材料的研究。这本书不仅吸引了广泛的纳米材料研究人员，也吸引了 SEM 开发专家。
书目信息
书名：Scanning Microscopy for Nanotechnology
书籍副标题：Techniques and Applications
编辑：数字对象标识符：https://doi.org/10.1007/978-0-387-39620-0
发行人：Springer New York, NY
电子书套餐：化学和材料科学， 化学和材料科学 （R0）
版权信息：Springer-Verlag New York 2007
精装 ISBN：978-0-387-33325-0
发布时间：2006 年 11 月 27 日
平装 ISBN：978-1-4419-2209-0
发布时间：2010 年 10 月 29 日
电子书 ISBN：978-0-387-39620-0
发布时间：2007 年 3 月 9 日
版本号：1
页数：十四，522
插图数量：399 幅黑白插图
主题：纳米技术、 材料表征和评估、 光学和电子材料、 测量科学和仪器
书籍购买链接
https://www.amazon.com/exec/obidos/ASIN/0819423785/jcnabitylithogra
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