微纳制造
服务信息网

韩国FST突破EUV防护膜关键技术 即将供货三星2纳米产线

2025-09-03

9月3日,据韩国媒体报道,韩国半导体材料和设备公司FST 正在与三星电子就供应极紫外 (EUV) 防护膜(pellicle)的价格进行深入谈判,双方有望在一年内达成供货协议。消息人士透露,由于先进芯片所需商品价格的波动,FST 已非常接近开始向三星供应防护膜。三星计划于2026年初启动2纳米芯片的代工生产,因此FST的防护膜很可能在年内投入使用,应用于EUV工艺的核心环节。


▲ EUV防护膜(pellicle)及其结构

FST 即将供应 EUV 防护膜


FST的EUV防护膜原型机正在接受三星的严格测试。测试结果显示,该防护膜在透光率、均匀性、热阻及氢等离子体耐久性方面均达到三星的要求,仅在框架颗粒问题上需进一步优化。FST表示,该问题预计将很快得到解决。此外,双方正在商讨将防护膜单价控制在5000万韩元(约3.6万美元)以下,远低于EUV光罩(约5亿至10亿韩元)的成本,但仍显著高于深紫外 (DUV) 光罩的100万韩元单价。

FST的防护膜采用碳纳米管 (CNT) 膜作为外层,搭配自主研发的涂层技术以抵御氢等离子体侵蚀。CNT膜可有效阻挡灰尘沉积,同时保持高透光率,其合成设备由芬兰公司Canatu提供。三星还计划在未来的高数值孔径 (High NA) EUV设备中继续使用FST的防护膜,进一步深化双方合作。

EUV 防护膜的重要性


EUV防护膜在先进芯片制造中扮演着至关重要的角色。作为保护光掩模的超薄薄膜,防护膜能在光刻过程中防止颗粒和杂质污染光掩模,从而延长其使用寿命。相比DUV光罩,EUV光罩的成本高出数十倍,单价在5亿至10亿韩元之间。若不使用防护膜,光掩模一旦被污染,芯片制造商需将其丢弃或进行昂贵的清洁操作,这将显著增加生产成本。


▲ EUVL 系统中图案缺陷的示意图 a) 不带防护膜,b) 带防护膜

近年来,芯片制造商越来越多地采用EUV工艺以满足先进制程需求。EUV工艺的高能量输出对设备和材料提出了更高要求,防护膜的引入成为降低生产风险和成本的关键。三星此前依赖ASML的EUV设备,但尚未大规模采用防护膜,主要由于担心其在高能量环境中可能破裂,导致生产线停摆。然而,台积电的成功经验表明,通过反复测试和优化,防护膜能够显著提高生产效率。台积电曾因防护膜破裂而多次停产,但通过积累经验和制定应对措施,已成功将其融入EUV制程。

三星于2020年和2021年分别投资658亿韩元和430亿韩元,收购了S&S Tech 8%的股份和FST 6.9%的股份,以支持两家公司在EUV防护膜领域的研发。这些投资帮助FST和S&S Tech在两年内开发出透光率超过90%的防护膜,展现出商业化潜力。尽管如此,三星仍对防护膜的稳定性持谨慎态度,担心其破裂可能导致EUV设备停机,影响整个生产线的运作。

EUV 防护膜市场展望


项随着EUV工艺在全球芯片制造中的普及,防护膜市场需求正在迅速增长。包括FST和S&S Tech在内的多家公司已开发出高性能防护膜,透光率超过90%,为芯片制造商提供了更可靠的解决方案。市场分析显示,防护膜的采用不仅能延长昂贵EUV光罩的使用寿命,还能通过减少清洁和更换频率降低总体生产成本。

当前芯片市场低迷为三星等制造商提供了测试防护膜的理想窗口。由于生产线产量处于低位,测试新材料的经济风险较低。台积电的成功案例表明,尽管初期可能面临破裂等挑战,但通过持续优化,防护膜能够显著提升生产效率并降低成本。台积电目前从日本三井化学(ASML合作伙伴)采购防护膜,并已建立完善的应对机制。

对三星而言,FST的防护膜有望在2纳米制程及未来的高NA EUV设备中发挥关键作用。随着FST解决颗粒问题并进一步优化产品,预计其防护膜将在2026年成为三星EUV工艺的重要组成部分。展望未来,随着EUV工艺的进一步普及,防护膜市场将持续扩大,为FST等供应商带来更多增长机会,同时推动全球芯片制造技术的进步。


参考资料:

Yun-Yao Lin,etc,"EUV pellicle technology for high volume wafer production", Proc. SPIE 12750, International Conference on Extreme Ultraviolet Lithography 2023, 127500N (21 November 2023); https://doi.org/10.1117/12.2688127

Sang Jin Cho, Kyoungwon Seo, Kyoungsoo Kim, Lan Yu, and Seong-yong Moon "Study on the multi layers for EUV pellicle", Proc. SPIE 11517, Extreme Ultraviolet Lithography 2020, 115171E (14 October 2020); https://doi.org/10.1117/12.2574586
Share this on